Search academic texts

Information × Registration Number 0213U003377, 0110U006038 , R & D reports Title Development of equipment for high-resolution X-ray diagnostic of nanomaterials, nanostructures and amorphous alloys popup.stage_title Head Kladko Vasyl Petrovych, Registration Date 25-01-2013 Organization Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukrain popup.description2 Adaptation of X-ray methodics for analisys of parameters of multilayered structures with complicated hexagonal lattice. Methodical basis for cartography of reciprocal lattice is developed. Calculation methods of reciprocal space map (RSM) for symetric and asymetric reflection in the presence of dislocations of different types were developed. Product Description popup.authors Єфанов Олександр Миколайович Гудименко Олександр Йосипович Кучук Андріан Володимирович Максименко Зоя Василівна Мачулін Володимир Федрович Проскуренко Наталя Миколаївна Садова Тетяна Володимирівна Сафрюк Надія Володимирівна Слободян Микола Васильович Стадник Олександр Анатолійович popup.nrat_date 2020-04-02 Close