Search academic texts

Information × Registration Number 0214U008423, 0110U006038 , R & D reports Title Development of equipment for high-resolution X-ray diagnostic of nanomaterials, nanostructures and amorphous alloys popup.stage_title Head Kladko Vasyl Petrovych, Registration Date 23-12-2014 Organization Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukrain popup.description2 Laboratoty of high resolution X-ray diffractometry with atested measurement methodics for obtaining structural parameters of nanomaterials and devices based on them was created. Laboratory works on base of diagnostic center of V.E. Lashkaryov Institute of semiconductor physics NAS of Ukraine with established procedures and the right to issue a certificate of conformity. Product Description popup.authors Єфанов Олександр Миколайович Гудименко Олександр Йосипович Кривий Сергій Борисович Кучук Андріан Володимирович Максименко Зоя Василівна Поліщук Юлія Олегівна Проскуренко Наталя Миколаївна Садова Тетяна Володимирівна Сафрюк Надія Володимирівна Слободян Микола Васильович Стадник Олександр Анатолійович Станчу Григорій Вікторович popup.nrat_date 2020-04-02 Close