Search academic texts

Information × Registration Number 0400U002068, Candidate dissertation Status к.т.н. Date 27-06-2000 popup.evolution o Title The development of the fault simulation and test generation methods of the digital circuits in multivalued alphabets Author Ivanov Dmytro Yevgenijovych, popup.head Скобцов Ю.О. popup.opponent Баркалов О.О. popup.opponent Вороний С.М. Description Об'єкт дослідження: методи моделювання та тестування цифрових пристроїв із пошкодженнями. Мета роботи: підвищення ефективності автоматизованого діагностування цифрових схем. Використано методи технічної діагностики, теорії бульових функцій, перемикаючих схем. Розроблено: 1) алгоритм паралельного подійного моделювання цифрових пристроїв із пошкодженнями у 16-значному алфавіті; 2) методи підвищення швидкодіі паралельного моделювання, суміщеного із одиночним розповсюдженням пошкоджень: статичне та динамічне сортування пошкоджень, функціонально-структурний спосіб внесення дії пошкоджень; 3) генетичний алгоритм генерації перевіряючих тестів для послідовністних схем. Запропоновані алгоритми реалізовані програмно у вигляді автоматизованої системи моделювання і діагностики АСМІД-Е, яку було використано для проектування реальних схем шахтної автоматики у ВАТ “Автоматгірмаш”. Registration Date 2000-06-27 popup.nrat_date 2020-04-04 Close