Search academic texts

Information × Registration Number 0400U003166, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 16-11-2000 popup.evolution o Title Double crystal X-ray diffractometery in diagnostics of single crystals with several types of microdefects of arbitrary sizes Author Vladimirova Tetyana Petrivna, popup.head Кисловський Євген Миколайович popup.opponent Даценко Леонід Іванович popup.opponent Репецький Станіслав Петрович Description Розроблено новий метод повних кривих дифракційного відбиття (КДВ) на основі створення нової теоретичної моделі для опису повної КДВ, що включає окіл точного бреггівського положення. Ця модель базується на використанні ряда виконаних у роботі узагальнень динамічної теорії розсіяння рентгенівських променів у кристалах з хаотично розподіленими дефектами кулонівського типу, які полягають у врахуванні динамічного характеру дифузного розсіяння (ДР) при аналітичному інтегруванні ДР по сфері Евальда, у врахуванні наявності в кристалі одночасно декількох типів дефектів довільних розмірів, а також у врахуванні інструментальних факторів розробленої рентгенооптичної схеми двокристального дифрактометра. Для реєстрації КДВ в таких випадках створено високороздільний (трьохосьовий), чотирикружний, автоматичний дифрактометр, на якому зібрані оригінальні рентгенооптичні схеми. В дисертації виявлено і описано осциляції інтенсивності асимптотичного ДР, які дозволили суттєво підвищити надійність визначення параметрів дефек тів. Показані однозначність, високі чутливість і інформативність діагностики розробленим методом. Registration Date 2000-11-16 popup.nrat_date 2020-04-04 Close