Search academic texts

Information × Registration Number 0404U004841, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 19-11-2004 popup.evolution o Title Physical methods and devices for determination of real crystal structure by multiple x-ray diffraction Author Kshevetskiy Oleg Stanislavovich, popup.head Fodchuk Igor Mikhaylovich popup.opponent Молодкін Вадим Борисович popup.opponent Прокопенко Ігор Васильович Description Здобули подальший розвиток методи дво- та багатохвильової дифракції Х-променів з метою дослідження структурних змін у кристалах, підданих дії різних зовнішніх сил. На основі розроблених методик щляхом функціонального вибору профілю одновимірних деформацій та оптимізації його параметрів проведено моделювання і співставлення експериментальних і теоретичних дифракційних картин, отриманих за допомогою методу Коселя та кривих дифракційного відбивання. Registration Date 2004-11-19 popup.nrat_date 2020-04-04 Close