Search academic texts

Information × Registration Number 0405U001503, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 29-03-2005 popup.evolution o Title The dynamical integrated diffractometry of the disturbed surface layers of the single crystals with defects. Author Kogut Mihail Tihonovich, popup.head Nizkova Anna Ivanovna popup.opponent Новиков Микола Миколайович popup.opponent Прокопенко Ігор Васильович Description Здійснено експериментальну перевірку та отримано підтвердження при дифракції за Бреггом унікальної чутливості повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) до дефектів. Встановлено обумовлюючу цю чутливість динамічну природу збільшення ПІВЗ виключно за рахунок переважаючого зростання з посиленням порушень дифузної складової ПІВЗ при зменшенні її когерентної складової як причини високої інформативності діагностики. При дифракції за Лауе експериментально встановлено динамічну природу розсіяння, що проявляється у зміні знаку впливу дефектів на ПІВЗ при переході від наближення "тонкого" до наближення "товстого" кристалів, що і обумовило її унікальну чутливість до дефектів. Створено, експериментально апробовано та використано для діагностики моделі динамічної дифракції в ідеальних кристалах з порушеним поверхневим шаром (ППШ) та в кристалах, що містять як випадково розподілені дефекти (ВРД), так і ППШ. На основі цих моделей розроблено нові принципи розділення внесків ППШ та ВРД в ПІВЗ, що базуютьсяна керуванні співвідношеннями між довжинами екстинкції та довжинами і глибинами абсорбції. Запропонований новий метод є унікальним, оскільки забезпечує кількісну діагностику нанорозмірних характеристик як порушеного шару на поверхні монокристала, так і випадково розподілених в об'ємі дефектів. Registration Date 2005-03-29 popup.nrat_date 2020-04-04 Close