Search academic texts

Information × Registration Number 0405U001977, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 21-04-2005 popup.evolution o Title Components of reflection electron energy loss spectra of Al, In and Ge films Author Konovalov Andriy Mykolayovych, popup.head Nakhodkin Mykola Grygorovych popup.opponent Загородній Анатолій Глібович popup.opponent Яковкін Іван Миколайович Description Дисертаційна робота присвячена експериментальному дослідженню процесів взаємодії елек-тронів середніх енергій (100-1000 еВ) у поверхневій області плівкових мішеней Al, In та Ge мето-дом спектроскопії характеристичних втрат енергії електронів (ХВЕЕ), що відбиваються від твер-дого тіла. Запропоновано новий підхід до кількісних досліджень спектрів ХВЕЕ, в рамках якого розроблені дві методики визначення компонентів спектрів, які не базуються на моделях взаємодій електронів у твердому тілі. Дослідження форм компонентів спектрів ХВЕЕ плівок Al, In та Ge, ви-міряних при різних кутах падіння, виходу та розсіяння електронів в діапазоні енергій первинних електронів 300-800 еВ, показали, що дисперсія поверхневого плазмону має додатний характер для In та від'ємний для Al та Ge. Виявлений пік мультипольного поверхневого плазмону в компонен-тах спектрів ХВЕЕ Al та Ge. При різних значеннях енергії первинних електронів визначені кутові залежності інтенсивностей піків однократних та двократних втрат енергій, нормованихна інтен-сивність піка пружно відбитих електронів. Встановлено, що для спектрів ХВЕЕ In та Ge нормовані інтенсивності піків, пов'язаних із збудженням об'ємного плазмону, складним немонотонним чи-ном суттєво залежать від кута розсіяння електронів. Вибір кута розсіяння електронів може прин-ципово змінити характер залежностей нормованої інтенсивності піка об'ємного плазмону від енер-гії первинних електронів. Нормована інтенсивність піка мультипольного поверхневого плазмону, оцінку якої вдалося виконати для спектрів ХВЕЕ Al, майже не залежить від кутів падіння та вихо-ду електронів і зменшується при збільшенні енергії первинних електронів. Registration Date 2005-04-21 popup.nrat_date 2020-04-04 Close