Search academic texts

Information × Registration Number 0410U004951, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 30-10-2010 popup.evolution o Title The peculiarities of the diffraction contrast of the dislocations and their complexes in Si crystals in the sectional and projectional X-ray topography Author Struk Andrij Jaroslavovych, popup.head Fodchuk Igor Myhajlovych popup.opponent Молодкін Вадим Борисович popup.opponent Максимяк Петро Петрович Description Дисертація присвячена дослідженню механізмів і закономірностей формування дифракційних зображень на Х-хвильових топограмах дислокацій, дислокаційних петель та їх комплексів у залежності від їх місцеположення в кристалі кремнію та наявності макродеформацій. Виявлено особливості формування товщинних осциляцій інтенсивності - поблизу лінії дислокації виникає просторове квазіперіодичне хвильове поле з макроперіодом в декілька екстинкційних відстаней. Досліджено вплив комбінованого поля деформацій від дислокацій та макроскопічних пружних деформацій на просторові розподіли інтенсивності в палатці Бормана. Registration Date 2010-10-30 popup.nrat_date 2020-04-04 Close