Search academic texts

Information × Registration Number 0411U002352, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 08-04-2011 popup.evolution o Title Layered structures permittivity profile reconstruction by the value of reflection coefficient Author Aleksin Sergey Gennadievich, popup.head Drobakhin Oleg Olegovich popup.opponent Колчигін Микола Миколайович popup.opponent Масалов Сергій Олександрович Description Об’єкт дослідження - відновлення профілю діелектричної проникності (ПДП) шаруватих діелектричних структур за частотною залежністю коефіцієнта відбиття. Предмет дослідження - електрофізичні параметри матеріалів шарів та геометричні параметри шарів шаруватих діелектричних структур. Методи дослідження - математичний апарат теорії функцій комплексної змінної, диференціального та інтегрального числення, інтегральних та диференціальних рівнянь, лінійної алгебри, теорії ймовірностей та кореляційного аналізу. В дисертації запропоновано нові модифікації трьох добре відомих методів відновлення ПДП багатошарових структур на основі виміряної частотної залежності коефіцієнта відбиття. Даними методами є метод динамічної деконволюції (МДД), дискретний аналог методу Гельфанда-Левітана (ДАМГЛ), що виходить із моделі структури з шарами рівної електричної товщини, та ітераційна схема Ньютона-Канторовича (ІСНК) розв’язання диференціального рівняння Рікатті, що пов’язує частотно-просторові залежності коефіцієнта відбиття та комплексної діелектричної проникності. Цілями розробки модифікацій було пришвидшення процесу відновлення ПДП (для ДАМГЛ та ІСНК), узагальнення базових методів, розроблених в припущенні плоскохвильового зондування, на випадок зондування розбіжним пучком (для МДД та ДАМГЛ), підвищення стабільності процесу відновлення за наявності втрат енергії в матеріалах шарів (для ІСНК). Крім того, вдосконалено два існуючих методи оцінювання електричних глибин залягання меж шарів. Також вдосконалено метод параметричного спектрального аналізу (ПСА), оснований на дробово-раціональній інтерполяції у фур’є-спряженій області та запропоновано новий підхід до вибору оптимального порядку ПСА. Результати роботи дозволяють покращити характеристики вимірювально-обчислювальних комплексів, які виконують візуалізацію ПДП шаруватих структур із діелектричного матеріалу на основі даних НВЧ-рефлектометрії. Галузі застосування - підповерхневе зондування почвоґрунтів, неруйнівний контроль промислових виробів та будівельних конструкцій. Registration Date 2011-04-08 popup.nrat_date 2020-04-04 Close