Search academic texts

Information × Registration Number 0499U002433, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 23-09-1999 popup.evolution o Title Structure and electrophysical properties of metal films with the semiconductor overlayer under condition of chemical and diffusion interaction atoms Author Ovcharenko Yurij Mykhajlovych, popup.head Проценко І.Ю. popup.opponent Панчеха П.О. popup.opponent Колот В.Я. Description Дослiдженi електрофiзичнi властивостi, структура, елементний та фазовий склад металевих плiвок Cr, Ni, Cu, V, Sc в умовах взаїмодiє з атомами та молекулами залишковоє атмосфери або напiвпровiдникового покриття Ge та Si (d<1 нм). Встановлений ефект зменшення температурного коефiцiїнта опору та коефiцiїнта поздовжньоє тензочутливостi, що пов'язуїться iз збiльшенням коефiцiїнта проходження межi зерна електронами у плiвках металiв пiсля нанесення покриття. Мас-спектрометрiя, електронографiя, електронна мiкроскопiя, вимiрювання тензочутливостi, електровимiрювання. Мiкроелектронiка. Registration Date 2000-10-06 popup.nrat_date 2021-03-17 Close