Search academic texts

Information × Registration Number 0499U002835, Candidate dissertation Status к.т.н. Date 28-10-1999 popup.evolution o Title X-ray diffraction investigations of structural in Si-crystals after high energy electron irradiation Author Marmus Petro Yevgenovych, popup.head Раранський Микола Дмитрович popup.opponent Прокопенко Ігор Васильович popup.opponent Ковалюк Захар Дмитрович Description Досліджено вплив високоенергетичного електронного і гамма-опромінення на ступінь структурної досконалості кремнію.Досліджено вплив механічного, хіміко-механічного полірування та радіаційного опромінення на ефекти внутрішнього тертя. Визначено енергію активації радіаційних дефектів. Визначені інтегральні параметри структурної досконалості. Показано, що такого роду опромінення спричиняє як покращення, так і погіршення структурної досконалості кристалів. Registration Date 2001-04-17 popup.nrat_date 2021-03-17 Close