Search academic texts

Information × Registration Number 0519U001061, Doctoral dissertation Status д.т.н. Date 22-03-2019 popup.evolution o Title Scientific and methodological basis of assessment the quality and properties of nanostructures on the surface of semiconductors Author Sychikova Yana Oleksandrivna, popup.head Bogdanov Igor Timofeevich popup.opponent Косач Наталія Ігорівна popup.opponent Гоц Наталія Євгенівна popup.opponent Гордієнко Тетяна Богданівна Description 1. У дисертаційній роботі вирішено актуальне завдання розробки систем оцінювання якості наноструктур, сформованих на поверхні напівпровідників. На основі аналізу сучасних методів, засобів та нормативних документів з контролю якості й методів синтезу наноструктур виділено основні підходи до класифікації, дослідження та аналізу властивостей наноструктур. На основі принципів системного й процесного підходів створено узагальнену модель синтезу наноструктур із заданим рівнем якості на поверхні напівпровідників. З метою забезпечення й поліпшення якості наноструктур встановлено технологічні чинники синтезу та стабілізації властивостей наноструктур. Визначено узагальнений критерій і розроблено методику оцінювання якості наноструктур, синтезованих на поверхні напівпровідників, що дозволить здійснювати порівняння однотипних зразків наноструктур та відповідність їх еталонним. Розроблено алгоритм та методику оцінювання наноматеріалів за ступенем потенційної небезпеки. Проведено оцінювання відповідності синтезованих поруватих шарів функціональному призначенню для застосувань у якості матеріалу фотоелектричних перетворювачів та суперконденсаторів. Registration Date 2019-03-22 popup.nrat_date 2020-04-03 Close