Search academic texts

Information × Registration Number 2113U001765, Article popup.category Thesis Title popup.author popup.publication 01-01-2013 popup.source_user Сумський державний університет popup.source http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/43544 popup.publisher Сумський державний університет Description Одним із методів цілеспрямованої модифікації приповерхневих шарів кристалів є іонна імплантація. Дефекти, що утворюються в результаті імплантації, впливають на властивості матеріалу, тому виникає потреба у визначенні їх основних характеристик. Зробити це можна методами Х-променевої дифрактометрії. При цьому точність отриманих результатів буде залежати від того, на скільки близька закладена при моделюванні теоретичних кривих дифракційного відбивання (КДВ) модель імплантованого шару до його реальної структури. popup.nrat_date 2025-05-12 Close