Search academic texts

Information × Registration Number 2114U000555, Article popup.category Стаття Title popup.author popup.publication 01-01-2014 popup.source_user Сумський державний університет popup.source http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36005 popup.publisher Сумской государственный университет Description У роботі викладена загальна методика моделювання процесів формування електронних пучків уаксіально-симетричних системах, яка базується на результатах тестових експериментів вольт-амперних характеристик типової триелектродної електроннооптичної системи, чисельному аналізіелектричних полів у міжелектродних проміжках та аналізі траєкторій руху електронів у заданих полях. Методика апробована шляхом чисельних експериментів у заданих реальних інтервалах напругна фокусувальних електродах і може бути рекомендована при практичній реалізації електроннопроменевих приладів різного призначення. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36005 В работе изложена общая методика моделирования процессов формирования эле к тронных пучков в аксиально - симметричных системах, которая базируется на результатах тестовых экспериментов вольт - амперных характеристик типичной трехэл ектродной электронно - оптической системы, числе н- ном анализе электрических полей в межэлектродных промежутках и анализе траекторий движения электронов в заданных полях. Методика апробирована путем численных экспериментов в заданных реальных интервалах напряж ений на фокусирующих электродах и может быть рекомендована при практической ре а лизации электронно - лучевых прибор ов различного назначения При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36005 The paper presents a general method of modeling the electron beam formation processes in the axially - symmetric systems. This method is based on the experi mental current - voltage characteristics of a typical three - electrode electron - optical system, on the numerical analysis of the electric fields in the electrode gap and on the trajectory analysis in the previously calculated fields. The method is tested by n umerical expe r- iments at predete r mined intervals of the real voltage s on the focusing electrodes and can be recommended for the practical realization of the electron - beam devices for different purposes When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36005 popup.nrat_date 2025-03-24 Close