Search academic texts

Information × Registration Number 2114U001522, Article popup.category Thesis Title popup.author popup.publication 01-01-2014 popup.source_user Сумський державний університет popup.source http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/39550 popup.publisher Сумский государственный университет Description Отказ интегральных микросхем (ИМС) может происходить из-за воздействия мощного СВЧ излучения. Это обусловлено прожогом проводящих пленок или активных микроструктурных элементов. При этом большинство исследователей считают, что механизм прожога антенный диэлектрической структуре (МДС), которая является моделью ИМС, наряду с антенным механизмом, может проявляться и механизм, связанный с конечной проводимостью пленок (скин-эффект). Целью работы является численный расчет поверхностных токов на металлической пленке при воздействии электромагнитного излучения в прямоугольном волноводе. popup.nrat_date 2025-05-12 Close