Information × Registration Number 2117U002190, Article popup.category Thesis Title popup.author popup.publication 01-01-2017 popup.source_user Сумський державний університет popup.source http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/64600 popup.publisher Сумський державний університет Description Плiвкові матеріали на основi металiв i напiвпровiдникiв широко використовуються в електронній і сенсорній техніці. З точки зору формування омічних контактів напівпровідники (НП) можна розділити на дві групи. Перша група – НП із низькою щільністю поверхневих станів, розташованих в глибині забороненої зони (наприклад, ZnSe, SiC). Друга група – НП з високою щільністю поверхневих станів, розташованих в глибині заборонений ної зони (наприклад, Si, Ge, GaAs). У цих матеріалах величина роботи виходу електронів з контактує металу слабо впливає на його властивості. popup.nrat_date 2025-05-12 Close
Article
Thesis
:
published. 2017-01-01;
Сумський державний університет, 2117U002190