Information × Registration Number 2124U002257, Article popup.category Бакалаврська робота Title popup.author Ковтун Богдан Юрійович popup.publication 01-01-2024 popup.source_user Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» popup.source https://ela.kpi.ua/handle/123456789/67522 popup.publisher Київ Description Об'єкт дослідження – сканувальна електронна мікроскопія. Предмет дослідження – сканувальна електронна мікроскопія як метод дослідження епітаксійних плівок. Мета роботи – дослідження сканувальної електронної мікроскопії як методу вивчення епітаксійних структур. В роботі було здійснено аналіз скануючої електронної мікросокопії як методу дослідження епітаксійних структур, розглянуто проблематику дефектів епітаксійних структур та методи їх вивчення, описано склад скануючого електронного мікроскопа та можливості його застосування для дослідження матеріалів та структур, проаналізовано переваги СЕМ у сфері дослідження епітаксійних плівок, розглянуто метод EBSD та особливості його застосування у процесі дослідження епітаксйних плівок. Встановлено, що скануюча електронна мікроскопія як метод пізнання епітаксійних структур дозволяє досліджувати морфологію матеріалів, здійснювати аналіз хімічного складу матеріалу, створювати нові каталізатори з заданими властивостями поверхні, досліджувати структури проміжних рядів між композиціями, вивчати процеси деформації матеріалів, контролювати якість матеріалів, здійснювати вимірювання лінійних розмірів елементів мікроструктур у матеріалах. popup.nrat_date 2025-01-29 Close
Article
Бакалаврська робота
Ковтун Богдан Юрійович. :
published. 2024-01-01;
Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», 2124U002257