Search academic texts

Information × Registration Number 2124U003955, Article popup.category Бакалаврська робота Title popup.author popup.publication 01-01-2024 popup.source_user Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» popup.source https://ela.kpi.ua/handle/123456789/69470 popup.publisher Київ Description Дипломний проєкт на тему: "Прилад для вимірювання товщини покриття діелектричних матеріалів" містить 80 сторінок, 34 ілюстрації та 22 бібліографічних посилань. У дипломному проєкті проведений аналіз методів та засобів вимірювання товщини покриття діелектричних матеріалів, а саме: методу сканування довжини оптичної хвилі; методу інтерференції; методу нанесення подряпини; методу рентгенівської флуоресценції. За допомогою запропонованих методів та засобів сьогодні можна вимірювати товщину покриття різних діелектричних матеріалів, але більш доцільно на виробництві для реалізації моніторингу вимірювального параметру використовувати саме ємнісний різницевий метод. Також показано, що різницевий метод вимірювання товщини покриття діелектричного матеріалу передбачає використання змінного конденсатора перетворювача для визначення ємності між його пластинами та опорного каналу, значення напруги з якого повинне відніматися від значення напруги у вимірювальному каналі. Різницю зазначених напруг у кінцевому результаті пов’язують із параметром товщини покриття діелектричного матеріалу. У роботі представлено структурну та спрощену електричну схеми приладу, які працюють на основі різницевого ємнісного методу вимірювання товщини покриття діелектричного матеріалу. Розроблено проєкт електричної схеми та друкованих плат приладу в різних програмних середовищах та створено код мікроконтролера для тестової програми роботи вимірювального приладу. popup.nrat_date 2025-03-31 Close