Search academic texts

Information × Registration Number 2124U004948, Article popup.category Master thesis Title popup.author popup.publication 01-01-2024 popup.source_user Сумський державний університет popup.source https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/95507 popup.publisher Сумський державний університет Description В сучасному науковому та технічному середовищі програмні системи візуального аналізу та обробки даних дифракційних зображень знаходять широке застосування. Однією з найбільш використовуваних програм для цих цілей є ImageJ, яка володіє широким набором інструментів для обробки зображень. Вона надає зручний інтерфейс для візуального аналізу та обробки даних дифракційних зображень, що дозволяє дослідникам ефективно виконувати різноманітні завдання. Дифракційні зображення, що отримуються в ході рентгенівської, нейтронної та електронної мікроскопії, відкривають доступ до глибинних структур та властивостей матеріалів, їх аналізу та інтерпретації, проте, потребують спеціалізованих програмних систем. Однією з таких є ImageJ її основна перевага можливість реалізації різних алгоритмів обробки зображень за допомогою додаткових плагінів. Це дозволяє адаптувати програму до конкретних потреб дослідження. Крім того, ImageJ підтримує різноманітні формати зображень, що робить її універсальним інструментом для аналізу дифракційних зображень. Застосування програмних систем візуального аналізу та обробки даних дифракційних зображень важливо не лише для наукових досліджень, але і для промислових застосувань. Вони дозволяють отримувати точні та об'єктивні результати, що сприяє подальшому розвитку наукового та технічного прогресу. Ця робота дає огляд програмній системі візуального аналізу та обробки даних дифракційних зображень ImageJ. Розглянуто її можливості, функціональні особливості та практичне застосування для дослідження тонких плівок. popup.nrat_date 2025-05-12 Close