Search academic texts

Information × Registration Number 2125U001541, Article popup.category Бакалаврська робота Title popup.author popup.publication 01-01-2025 popup.source_user Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» popup.source https://ela.kpi.ua/handle/123456789/74516 popup.publisher м. Київ Description Основною метою роботи є визначення впливу опромінення іонами різного типу (Ar+, N+) на зміни структури, фазового складу та пошарового розподілу компонентів в нанорозмірних плівках Ni(30 нм)/Ti(30 нм). Для виконання поставлених задач були використані рентгеноструктурний фазовий аналіз та метод спектрометрії вторинних іонів. В результаті виконання роботи осаджено методом магнетронного розпорошення три тонкоплівкові композиції Ni(30 нм)/Ti(30 нм), проведена їх обробка іонами різних типів, досліджено їх структуру, хімічний та фазовий склад. popup.nrat_date 2025-08-18 Close