Search academic texts

Information × Registration Number 2119U001009, Article popup.category Стаття, Опубліковано, Рецензована стаття Title DIAGNOSTIC MODEL OF SEMICONDUCTOR INTEGRAL SCHEME OUTPUT TRANSMITTER popup.author Kuzavkov V.Redziuk Yе.Kuzavkov V.Redziuk Ye. popup.publication 05-02-2019 popup.source_user Національний університет «Полтавська політехніка імені Юрія Кондратюка» popup.source https://journals.nupp.edu.ua/sunz/article/view/1376 popup.publisher Національний університет «Полтавська політехніка імені Юрія Кондратюка» Description Представлено нову діагностичну модель базового логічного елементу (вихідного транслятора напівпровідникової інтегральної мікросхеми) для вдосконаленого індукційного методу діагностування. Процес визначення технічного стану сучасного радіоелектронного озброєння пов'язаний з реєстрацією та обробкою діагностичних параметрів. Основу цифрової схемотехніки становлять логічні інтегральні мікросхеми, особливості будови яких дозволили отримати математичні вирази для розрахунку значень діагностичного параметру визначення технічного стану як окремих компонентів цифрової електроніки так і цілком зразка радіоелектронного озброєння. Нова діагностична модель відображує зв'язок струму через вихідний транслятор логічної інтегральної мікросхеми з фізико-хімічними процесами, які відбуваються в напівпровідникових структурах радіоелектронних компонентів під час експлуатації (старіння). popup.nrat_date 2026-04-19 Close