Звіт по науково-дослідній роботі. Курмашев Ш.Д.. Дослідження впливу зовнішніх факторів та електричних режимів на характер закономірностей відмов напівпровідникових структур та розробка методологиї їх прискоренних випробувань на надійність.

Registration Number

0203U008161, 0100U002891 , R & D reports

Title

Influence of external factors and of electric regimes on the failure behaviour characteristics of semiconductor structures and development of methodology for their accelerated realibility tests.

popup.stage_title

Head

Kurmashev Sh.D.,

Registration Date

02-06-2003

Organization

Odessa I.I.Mechnikov's National University

popup.description2

The influence of external factors on failure behaviour of semiconductor structures is investigated. The models are degradation developed. The method for the accelerated reliability tests is developed and formulas for recalculation of the forced-regime test results info the normal regime are proposed. The experimental verification of the methods is carried out.

Product Description

popup.authors

popup.nrat_date

2020-04-03