Search academic texts

Information × Registration Number 0212U004752, 0110U006038 , R & D reports Title Development of equipment for high-resolution X-ray diagnostic of nanomaterials, nanostructures and amorphous alloys popup.stage_title Head Kladko Vasyl Petrovych, Registration Date 01-03-2012 Organization Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukrain popup.description2 Theoretical basis of dynamical diffraction in different geometries for multilayer quantum-sizes structures have been developed. This basis was clarified and extended for case of contribution in diffraction from several reciprocal lattice nodes. Product Description popup.authors Єфанов Олександр Миколайович Гудименко Олександр Йосипович Кучук Андріан Володимирович Максименко Зоя Василівна Мачулін Володимир Федрович Проскуренко Наталя Миколаївна Садова Тетяна Володимирівна Сафрюк Надія Володимирівна Слободян Микола Васильович Стадник Олександр Анатолійович popup.nrat_date 2020-04-02 Close