Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0212U004752, 0110U006038 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розроблення апаратури для високороздільної рентгенівської діагностики наноматеріалів, наноструктур та аморфних сплавів Назва етапу роботи Керівник роботи Кладько Василь Петрович, Дата реєстрації 01-03-2012 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Розвинуті теоретичні основи динамічної дифракції Х-променів на багатошарових квантово-розмірних структурах в різних геометріях. Уточнені і розширені теоретичні основи динамічної дифракції Х-променів в багатошарових структурах на випадок внеску в дифракцію декількох вузлів оберненої гратки. Опис продукції Розвинуті теоретичні основи динамічної дифракції Х-променів на багатошарових квантово-розмірних структурах в різних геометріях. Уточнені і розширені теоретичні основи динамічної дифракції Х-променів в багатошарових структурах на випадок внеску в дифракцію декількох вузлів оберненої гратки. Ця модель вра-ховує взаємодію випромінювання, дифрагованого різними вузлами гратки, в тому числі і нульового (дзеркальне відбиття). Автори роботи Єфанов Олександр Миколайович Гудименко Олександр Йосипович Кучук Андріан Володимирович Максименко Зоя Василівна Мачулін Володимир Федрович Проскуренко Наталя Миколаївна Садова Тетяна Володимирівна Сафрюк Надія Володимирівна Слободян Микола Васильович Стадник Олександр Анатолійович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Керівник: Кладько Василь Петрович. Розроблення апаратури для високороздільної рентгенівської діагностики наноматеріалів, наноструктур та аморфних сплавів. (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0212U004752
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-15