1 documents found
Information × Registration Number 0225U000266, (0122U000448) , R & D reports Title Investigation of physical properties of heterostructures based on van der Waals surfaces with graphite and graphene for optoelectronics popup.stage_title Оптимізація технологічних процедур на основі отриманих експериментальних результатів. Побудова та аналіз фізичних моделей, що описують властивості отриманих наногетеростроуктур. Оцінка основних параметрів фотоелектронних пристроїв для оптоелектроніки. Head Kovaliuk Zakhar D., Доктор фізико-математичних наук Registration Date 08-01-2025 Organization Chernivtsi Branch of Frantsevich Institute of Problems of Materials Science popup.description1 Synthesis and growth of layered III–VI semiconductors, fabrication of graphene and III–VI semiconductors layers with nanoscale thickness and creation of photosensitive heterostructures for optoelectronics based on them popup.description2 The technology is considered and the results of research of new, promising semiconductor materials and structures for electronics are presented: graphene/p-GaSe/n-In2Se3/graphene, p-CuFeO2/n-InSe, n-NiFe2O4/n-InSe and n-Fe2O3/p-InSe heterojunctions; InxSey nanoribbons in a matrix of single-walled carbon nanotubes; composite materials from a mixture of InSe semiconductor powders and thermally expanded graphite; graphite films fabricated by drawing on paper and vacuum deposition on InSe and SiO2 substrates. Product Description popup.authors Boledziuk Volodymyr B. Vodopianov Volodymyr M. Kaminskyi Vasyl M. Kudrynskyi Zakhar R. Mintianskyi Illia V. Savytskyi Petro I. Tkachuk Ivan H. popup.nrat_date 2025-01-08 Close
R & D report
2
Head: Kovaliuk Zakhar D.. Investigation of physical properties of heterostructures based on van der Waals surfaces with graphite and graphene for optoelectronics. (popup.stage: Оптимізація технологічних процедур на основі отриманих експериментальних результатів. Побудова та аналіз фізичних моделей, що описують властивості отриманих наногетеростроуктур. Оцінка основних параметрів фотоелектронних пристроїв для оптоелектроніки.). Chernivtsi Branch of Frantsevich Institute of Problems of Materials Science. № 0225U000266
1 documents found

Updated: 2026-03-26