Search academic texts

Information × Registration Number 0304U001241, 0197U019124 , R & D reports Title Тhе investigationes of the structural and optoelectrical characteristics of the buffer layers Si, SiGe and the heterojunctionts on their base popup.stage_title Дослідження структурних та електрооптичних ознак буферних слоїв Si, SiGe та гетеропереходів на їх основі Head Sizov F.F., Registration Date 02-02-2004 Organization Institute of Semiconductor Physics of NAS of Ukraine popup.description2 Тhе investigationes of the structural and optoelectrical characteristics of the buffer layers Si, SiGe were begun5635 Product Description popup.authors popup.nrat_date 2020-04-02 Close