Знайдено документів: 1
Керівник: Сизов Федір Федорович. Дослідження структурних та електрооптичних ознак буферних слоїв Si, SiGe та гетеропереходів на їх основі. (Етап: Дослідження структурних та електрооптичних ознак буферних слоїв Si, SiGe та гетеропереходів на їх основі). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0304U001241
Знайдено документів: 1
Оновлено: 2026-03-20
