Search academic texts

Information × Registration Number 0400U002704, Candidate dissertation Status к.т.н. Date 11-10-2000 popup.evolution o Title Multidimensional method and algorithms of test generation for combined diagnosing of microprocessor devices. Author Bojchuk Vadym Oleksandrovych, popup.head Локазюк Віктор Миколайович popup.opponent Савченко Юлій Григорович popup.opponent Рабчук Віталій Львович Description Дисертація присвячена питанням розвитку тестового комбінованого діагностування сучасних мікропроцесорних пристроїв. В роботі запропонована нова структурно-поведінкова модель МПП як об'єктів діагностування, котра є комбінацією поведінкових та структурних складових, які пов'язані нечіткими відношеннями. На основі запропонованої моделі розроблено новий багатоаспектний метод генерації тестів комбінованого діагностування МПП, який характеризується паралельним хвильовим алгоритмом розповсюдження проявів несправностей. Для їх розповсюдження через вузли моделі або сукупність вузлів використовуються розв'язки невизначених (діофантових) рівнянь або їх систем, які одержуються в процесі аналізу програмних модулів вузлів. Запропоновані способи запобігання конфліктів, що виникають при побудові тестів, згідно з багатоаспектним методом. На основі нечітких відношень складових моделі розроблено метод мінімізації кількості тестової інформації. Основні результати роботи знайшли своє використання при створенні підсистем и генерації тестів, що дозволило спростити структуру та розширити функціональні можливості програмного забезпечення систем комбінованого діагностування, підвищити достовірність пошуку несправностей та ефективність систем тестового комбінованого діагностування. Registration Date 2000-10-11 popup.nrat_date 2020-04-04 Close