Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0400U002704, Кандидатська дисертація На здобуття к.т.н. Дата захисту 11-10-2000 Статус Запланована Назва роботи Багатоаспектний метод та алгоритми генерації тестів комбінованого діагностування мікропроцессорних пристроїв. Здобувач Бойчук Вадим Олександрович, Керівник Локазюк Віктор Миколайович Опонент Савченко Юлій Григорович Опонент Рабчук Віталій Львович Опис Дисертація присвячена питанням розвитку тестового комбінованого діагностування сучасних мікропроцесорних пристроїв. В роботі запропонована нова структурно-поведінкова модель МПП як об'єктів діагностування, котра є комбінацією поведінкових та структурних складових, які пов'язані нечіткими відношеннями. На основі запропонованої моделі розроблено новий багатоаспектний метод генерації тестів комбінованого діагностування МПП, який характеризується паралельним хвильовим алгоритмом розповсюдження проявів несправностей. Для їх розповсюдження через вузли моделі або сукупність вузлів використовуються розв'язки невизначених (діофантових) рівнянь або їх систем, які одержуються в процесі аналізу програмних модулів вузлів. Запропоновані способи запобігання конфліктів, що виникають при побудові тестів, згідно з багатоаспектним методом. На основі нечітких відношень складових моделі розроблено метод мінімізації кількості тестової інформації. Основні результати роботи знайшли своє використання при створенні підсистем и генерації тестів, що дозволило спростити структуру та розширити функціональні можливості програмного забезпечення систем комбінованого діагностування, підвищити достовірність пошуку несправностей та ефективність систем тестового комбінованого діагностування. Дата реєстрації 2000-10-11 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити