Search academic texts

Information × Registration Number 0404U004527, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 29-10-2004 popup.evolution o Title Topography and diffractometry of silicon crystals with dislocations and microdefects under condition of X-ray acoustic resonance Author Fedortsov Dmytro Georgiyovich, popup.head Fodchuk Igor Mikhaylovich popup.opponent Кладько Василь Петрович popup.opponent Венгренович Роман Дмитрович Description За допомогою чисельних методів побудовані топографічні зображення дислокаційних петель, бар'єрів Ломера-Котрела та їх комплексів з мікродефектами. Визначено вплив орієнтаційних характеристик дислокаційних петель на просторові розподіли інтенсивності Х-променів та криві гойдання. Досліджено вплив деформаційних полів дислокаційних петель на Х-променеву акустичну взаємодію. Оцінено фактор Дебая-Валлера L та коефіцієнт дифузних втрат. Registration Date 2004-10-29 popup.nrat_date 2020-04-04 Close