Registration Number
0404U004527, Candidate dissertation
Status
к.ф.-м.н.
Date
29-10-2004
popup.evolution
.
Title
Topography and diffractometry of silicon crystals with dislocations and microdefects under condition of X-ray acoustic resonance
Author
Fedortsov Dmytro Georgiyovich,
popup.head Fodchuk Igor Mikhaylovich
popup.opponent Кладько Василь Петрович
popup.opponent Венгренович Роман Дмитрович
popup.rada
Yuri Fedkovych Chernivtsi National University
Description
За допомогою чисельних методів побудовані топографічні зображення дислокаційних петель, бар'єрів Ломера-Котрела та їх комплексів з мікродефектами. Визначено вплив орієнтаційних характеристик дислокаційних петель на просторові розподіли інтенсивності Х-променів та криві гойдання. Досліджено вплив деформаційних полів дислокаційних петель на Х-променеву акустичну взаємодію. Оцінено фактор Дебая-Валлера L та коефіцієнт дифузних втрат.
Registration Date
2004-12-07
popup.nrat_date
2020-04-04 / 2026-06-30