Search academic texts

Information × Registration Number 0405U004831, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 13-12-2005 popup.evolution o Title New principles of dynamical triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in real monocrystals Author Reshetnyk Oleg Vasyliovych, popup.head Kyslovskyy Yevgen Mykolayovych popup.opponent Раранський Микола Дмитрович popup.opponent Куліш Микола Полікарпович Description Створено і реалізовано диференційно-інтегральний метод у випадку Брегг-дифракції, який вперше оперує з дифузною і когерентною складовими інтегральної інтенсивності розсіяння, що вимірюються окремо на трикристальному дифрактометрі. Вперше розроблено нові фізичні моделі, які враховують вплив дефектної структури всіх кристалів рентгенооптичних схем тривісьових дифрактометрsів на вимірювані профілі розподілів інтенсивності в околі вузлів оберненої гратки досліджуваних зразків. На основі розроблених нових принципів реалізовано комбінований підхід до діагностики мікродефектів декількох типів шляхом комплексного використання трикристального і високороздільного двокристального дифрактометрів. Registration Date 2005-12-13 popup.nrat_date 2020-04-04 Close