Реєстраційний номер
0405U004831, Кандидатська дисертація
На здобуття
к.ф.-м.н.
Дата захисту
13-12-2005
Статус
Захищена
Назва роботи
Нові принципи динамічної трикристальної рентгенівської дифрактометрії мікродефектів в реальних монокристалах
Здобувач
Решетник Олег Васильович,
Керівник Кисловський Євген Миколайович
Опонент Раранський Микола Дмитрович
Опонент Куліш Микола Полікарпович
Установа, організація, у вченій раді якої відбудеться/відбувся захист
Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України
Опис
Створено і реалізовано диференційно-інтегральний метод у випадку Брегг-дифракції, який вперше оперує з дифузною і когерентною складовими інтегральної інтенсивності розсіяння, що вимірюються окремо на трикристальному дифрактометрі. Вперше розроблено нові фізичні моделі, які враховують вплив дефектної структури всіх кристалів рентгенооптичних схем тривісьових дифрактометрsів на вимірювані профілі розподілів інтенсивності в околі вузлів оберненої гратки досліджуваних зразків. На основі розроблених нових принципів реалізовано комбінований підхід до діагностики мікродефектів декількох типів шляхом комплексного використання трикристального і високороздільного двокристального дифрактометрів.
Дата реєстрації
2005-12-21
Додано/оновлено в НРАТ
2020-04-04 / 2026-06-30
