Search academic texts

Information × Registration Number 0409U002890, Candidate dissertation Status к.т.н. Date 27-05-2009 popup.evolution o Title System's models of testability analysis of digital structures on chips Author Kaminska Maryna Olexandrivna, popup.head Khakhanov Vladimir Ivanovich popup.opponent Хажмурадов Манап Ахмадович popup.opponent Дербунович Леонід Вікторович Description Дисертаційна робота присвячена розробці системних моделей та методів аналізу тестопридатності та подаль-шої модифікації проектів, що представлені системним, регістровим та вентильним рівнем для суттєвого змен-шення часу синтезу та моделювання тестів та зменшення діагностичної інформації. Вперше розроблено новий структурно-функціональний метод, що може бути використаний на вентильному та регістровому рівнях; вперше розроблено методи аналізу тестопридатності програмних та апаратних продуктів TASL та TGA, моделі яких представлені орієнтованими графами регістрових передач та керування; запропонована модель процеса вибору контрольних точок, яка орієнтована на аналіз структур вентильного, регі-стрового та системного рівней; модель тестування цифрових систем з використанням модифікованої комірки регістра сканування та зваженого тесту, генерованого на основі показників тестопридатності, що дозволяє суттєво зменшити час тестування та генерації тестів одночасно з покращенням глибини покриття дефектів. Registration Date 2009-05-27 popup.nrat_date 2020-04-04 Close