Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0409U002890, Кандидатська дисертація На здобуття к.т.н. Дата захисту 27-05-2009 Статус Запланована Назва роботи Системні моделі аналізу тестопридатності цифрових структур на кристалах Здобувач Камінська Марина Олександрівна, Керівник Хаханов Володимир Іванович Опонент Хажмурадов Манап Ахмадович Опонент Дербунович Леонід Вікторович Опис Дисертаційна робота присвячена розробці системних моделей та методів аналізу тестопридатності та подаль-шої модифікації проектів, що представлені системним, регістровим та вентильним рівнем для суттєвого змен-шення часу синтезу та моделювання тестів та зменшення діагностичної інформації. Вперше розроблено новий структурно-функціональний метод, що може бути використаний на вентильному та регістровому рівнях; вперше розроблено методи аналізу тестопридатності програмних та апаратних продуктів TASL та TGA, моделі яких представлені орієнтованими графами регістрових передач та керування; запропонована модель процеса вибору контрольних точок, яка орієнтована на аналіз структур вентильного, регі-стрового та системного рівней; модель тестування цифрових систем з використанням модифікованої комірки регістра сканування та зваженого тесту, генерованого на основі показників тестопридатності, що дозволяє суттєво зменшити час тестування та генерації тестів одночасно з покращенням глибини покриття дефектів. Дата реєстрації 2009-05-27 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити