Search academic texts

Information × Registration Number 0409U005410, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 22-10-2009 popup.evolution o Title High resolution X-ray diffractometry structural disorders of surface layers Si crystals and CdHgTe, YLaFeO after ion implantation Author Kazemirs'kyy Taras Anatoliyovich, popup.head Fodchuk Igor Michaylovich popup.opponent Кладько Василь Петрович popup.opponent Кисловський Євген Миклоайович Description Представлено результати Х-променевих структурних досліджень приповерхневих областей варізонних структур (111) CdHgTe/CdTe (x=0,21) і (110) CdHgTe/CdTe (х=0,23), одержаних високотемпературним відпалом епітаксійних шарів в парах основних компонент і в які імплантовано іони арсену. Запропонована модель можливої системи домінуючих структурних дефектів у модифікованих хімічним травленням та іонною імплантацією приповерхневих шарах кремнію. Установлено хід структурних перетворень після опромінення висо-кими дозами іонів азоту епітаксійних плівок YLaFeO через вибір відповідних модельних представлень дефектної структури і в певний спосіб розподіленого порушеного поверхневого шару. Registration Date 2009-10-22 popup.nrat_date 2020-04-04 Close