Search academic texts

Information × Registration Number 0413U003686, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 04-06-2013 popup.evolution o Title Diffractometry of Single Crystals with Albitrary Thicknesses of Disturbed Surface Layers and Microdefect Size Author Vasylyk Iaroslav Viktorovych, popup.head Bogdanov Evgen Ivanovich popup.opponent Кладько Василь Петрович popup.opponent Фодчук Ігор Михайлович popup.opponent Білоколос Євген Дмитрович Description Виявлено ефект асиметрії азимутальної залежності нормованої повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції, який дозволив вперше встановити кількісно без руйнування характеристики технологічно порушених шарів монокристалів, товщини яких можуть бути співмірними або перевищувати довжину екстинкції. Апробовано модель багатопараметричної інтегральної дифрактометрії параметрів порушених поверхневих шарів монокристалів з додатково присутніми як однорідно, так і можливо неоднорідно розподіленими дефектами декількох типів, без обмежень на розміри дефектів та товщини шарів, тобто з враховуванням орієнтаційної залежності інтерференційного коефіцієнта поглинання та внеска інтерференції складових повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції від кінематично та динамічно розсіюючих шарів. Registration Date 2013-06-04 popup.nrat_date 2020-04-04 Close