Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0413U003686, Кандидатська дисертація На здобуття к.ф.-м.н. Дата захисту 04-06-2013 Статус Запланована Назва роботи Дифрактометрія монокристалів з довільними товщинами порушених поверхневих шарів та розмірами мікродефектів Здобувач Василик Ярослав Вікторович, Керівник Богданов Євген Іванович Опонент Кладько Василь Петрович Опонент Фодчук Ігор Михайлович Опонент Білоколос Євген Дмитрович Опис Виявлено ефект асиметрії азимутальної залежності нормованої повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції, який дозволив вперше встановити кількісно без руйнування характеристики технологічно порушених шарів монокристалів, товщини яких можуть бути співмірними або перевищувати довжину екстинкції. Апробовано модель багатопараметричної інтегральної дифрактометрії параметрів порушених поверхневих шарів монокристалів з додатково присутніми як однорідно, так і можливо неоднорідно розподіленими дефектами декількох типів, без обмежень на розміри дефектів та товщини шарів, тобто з враховуванням орієнтаційної залежності інтерференційного коефіцієнта поглинання та внеска інтерференції складових повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції від кінематично та динамічно розсіюючих шарів. Дата реєстрації 2013-06-04 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити