Search academic texts

Information × Registration Number 2103U000567, Article popup.category Стаття Title popup.author popup.publication 01-01-2003 popup.source_user Сумський державний університет popup.source http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493 popup.publisher Institute for Single Crystals Description Анализируются экспериментальные данные о концентрации и температурной стабильности межзеренных границ и дефектов упаковки в тонких пленках металлов с некристаллической структурой. Сделан вывод, что образование этих дефектов в процессе конденсации уменьшает свободную энергию тонких пленок. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493 Experimental data on concentrations and temperature stability of intergrain boundaries and stacking faults in thin metal films of nanocrystalline structure are considered. The defect formation in the course of condensation has been concluded to decrease the thin film free energy. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493 popup.nrat_date 2025-05-13 Close