Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2103U000567, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи Formation factors of stable nanocrystalline thin films Автор Дата публікації 01-01-2003 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493 Видання Institute for Single Crystals Опис Анализируются экспериментальные данные о концентрации и температурной стабильности межзеренных границ и дефектов упаковки в тонких пленках металлов с некристаллической структурой. Сделан вывод, что образование этих дефектов в процессе конденсации уменьшает свободную энергию тонких пленок. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493 Experimental data on concentrations and temperature stability of intergrain boundaries and stacking faults in thin metal films of nanocrystalline structure are considered. The defect formation in the course of condensation has been concluded to decrease the thin film free energy. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493 Додано в НРАТ 2025-05-13 Закрити