Search academic texts

Information × Registration Number 2105U000178, Article popup.category Стаття Title popup.author popup.publication 01-01-2005 popup.source_user Сумський державний університет popup.source http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/695 popup.publisher Видавництво СумДУ Description The estimation procedure of contribution of electron scattering on boundaries of layers (interface) in thin films system was suggested. The method is based on comparison of resistivity and temperature coefficient of resistance of a single-layer film and multi-layer film system of equal thickness. У роботі було експериментально визначено величини питомого опору та термічного коефіцієнта опору (ТКО) двох металевих плівкових зразків однакової товщини. При цьому один з них являв собою одношарову плівку, а інший - двошарову плівкову систему на основі Cu, в якій була штучно змодельована межа поділу шарів. Для підтвердження отриманих даних було досліджено систему [Cu/Cr]n/П (П - підкладка), отриману шляхом термоцикльованої конденсації. Показано, що інтерфейсне розсіювання носіїв заряду призводить до збільшення питомого опору та зменшення ТКО на 9 - 20%. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/695 popup.nrat_date 2025-03-24 Close