Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 2105U000178, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи Вплив інтерфейсного розсіювання на електрофізичні властивості плівкових матеріалів Автор Дата публікації 01-01-2005 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/695 Видання Видавництво СумДУ Опис The estimation procedure of contribution of electron scattering on boundaries of layers (interface) in thin films system was suggested. The method is based on comparison of resistivity and temperature coefficient of resistance of a single-layer film and multi-layer film system of equal thickness. У роботі було експериментально визначено величини питомого опору та термічного коефіцієнта опору (ТКО) двох металевих плівкових зразків однакової товщини. При цьому один з них являв собою одношарову плівку, а інший - двошарову плівкову систему на основі Cu, в якій була штучно змодельована межа поділу шарів. Для підтвердження отриманих даних було досліджено систему [Cu/Cr]n/П (П - підкладка), отриману шляхом термоцикльованої конденсації. Показано, що інтерфейсне розсіювання носіїв заряду призводить до збільшення питомого опору та зменшення ТКО на 9 - 20%. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/695 Додано в НРАТ 2025-03-24 Закрити
Матеріали
Стаття
Вплив інтерфейсного розсіювання на електрофізичні властивості плівкових матеріалів
Вплив інтерфейсного розсіювання на електрофізичні властивості плівкових матеріалів : публікація 2005-01-01; Сумський державний університет, 2105U000178
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-04-09


Роздрукувати цю сторінку