Search academic texts

Information × Registration Number 2108U000550, Article popup.category Стаття Title popup.author popup.publication 01-01-2008 popup.source_user Сумський державний університет popup.source http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9636 popup.publisher Изд-во СумГУ Description В работе получены данные по стойкости микросхем при воздействии мощных импульсных электромагнитных полей, получены численные значения пороговых полей катастрофических отказов к рассматриваемому виду воздействия вплоть до микросхем с 30 нанометровой технологией и размерами кристаллов до 20*20мм. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9636 popup.nrat_date 2025-03-31 Close