Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2108U000550, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи Прогнозирование стойкости микросхем при их работе в напряженных токовых режимах Автор Дата публікації 01-01-2008 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9636 Видання Изд-во СумГУ Опис В работе получены данные по стойкости микросхем при воздействии мощных импульсных электромагнитных полей, получены численные значения пороговых полей катастрофических отказов к рассматриваемому виду воздействия вплоть до микросхем с 30 нанометровой технологией и размерами кристаллов до 20*20мм. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9636 Додано в НРАТ 2025-03-31 Закрити