Search academic texts

Information × Registration Number 2116U002118, Article popup.category Thesis Title popup.author popup.publication 01-01-2016 popup.source_user Сумський державний університет popup.source http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/45991 popup.publisher Сумский государственный университет Description От температуры кристалла во время работы зависят эксплуатационные параметры и характеристики надежности полупроводниковых диодов. Поэтому разработка способов, позволяющих достаточно точно определять температуру кристалла с целью выбора наиболее оптимальных режимов эксплуатации полупроводниковых приборов является актуальной задачей. Более предпочтительными являются неразрущающие способы измерения, поскольку они не требуют осуществления раскорпусировки приборов. popup.nrat_date 2025-05-12 Close