Registration Number
2119U001118, Article
popup.category
Стаття, Опубліковано, Рецензована стаття
Title
THE STUDY OF THE DESIGN OF THE PRINCIPLE SCHEME OF THE DEVICE FOR TESTING THE INTEGRAL MICROSYSTEMS
popup.author
Kononov V.
Kushneruk Ju.
Nazarenko А.
Kononov V.
Kushneruk Ju.
Nazarenko A.
popup.publication
30-10-2019
popup.source_user
Національний університет «Полтавська політехніка імені Юрія Кондратюка»
popup.source
https://journals.nupp.edu.ua/sunz/article/view/1708
popup.publisher
Національний університет «Полтавська політехніка імені Юрія Кондратюка»
Description
Предметом вивчення в статті є питання проектування принципової схеми пристрою тестування інтегральних мікросхем. Метою статті є дослідження проектування принципової схеми пристрою, якій підключає до комп'ютера, призначеного для тестування й визначення типу інтегральних мікросхем методом сигнатурного аналізу мікросхем, що дозволяє робити перевірку всіх статичних режимів роботи цих інтегральних мікросхем. Завдання – за допомогою обраних складових принципової схеми пристрою, а саме: вузлу вхідних регістрів; пристрою узгодження по входу; пристроюй узгодження по виходу; керуючого пристрою; блоку живлення; пристрою комутації живлення; джерела живлення пристрою дослідити їх принцип дії, за допомогою якого обґрунтувати технічні рішення, впровадження яких в практику вимірювання дозволить здійснювати перевірку всіх статичних режимів роботи інтегральних мікросхем. Висновки: запропоновані технічні рішення, що отримані при дослідженні проектування принципової схеми пристрою тестування інтегральних мікросхем надають можливість обрати найбільш корисну принципову схему пристрою, якій підключає до ІВМ - сумісного комп'ютера, призначеного для тестування й визначення типу інтегральних мікросхем.
popup.nrat_date
2026-04-19