Registration Number
2123U013559, Article
popup.category
Стаття
Title
Assessment of the reliability of electronic products by the level of low-frequency noise
popup.author
Михалевський Д. В.
Стальченко О. В.
Mykhalevskiy D.
Stalchenko O.
Mykhalevskiy D.
Stalchenko O.
popup.publication
01-01-2023
popup.source_user
Вінницький національний технічний університет
popup.source
https://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/49648
popup.publisher
Хмельницький національний університет
Description
У статті представлено результати дослідження для розширення можливостей контролю виробів електронної техніки за рівнем низькочастотних шумів для оцінювання кількісних параметрів надійності. Це дає можливість виробникам електроніки визначати відповідні границі допустимих рівнів шуму, на основі яких можна забезпечити відповідний рівень надійності та стабільної роботи пристроїв на основі виробів електронної техніки. Досліджено нестаціонарний процес деградації внутрішньої структури виробів електронної техніки на основі інформативного параметра та випадкової похибки для визначення параметрів надійності. Виявлено, що такий процес є подібним до лінійного закону та характеризується математичним очікуванням і дисперсією. Отримано узагальнений аналітичний вираз для випадкового процесу функції надійності виробів електронної техніки, який пов’язує середньоквадратичне значення шумової напруги, границі придатності та інтервал напрацювання на відмову. Параметри функції надійності можуть бути розраховані на основі статистичної обробки результатів експериментальних досліджень. Встановлено, що рівень власних шумів з часом зростає за законом близьким до лінійного, і випадковий процес зміни інформативного параметра в часі є близьким до моделі лінійної регресії, Це також має місце і для деградації внутрішньої структури
popup.nrat_date
2026-11-02
