Registration Number
2125U011730, Article
popup.category
Стаття
Title
Reliability of testing electronic products by the level of low-frequency noise
popup.author
Михалевський Д. В.
Mykhalevskiy D. V.
Mykhalevskiy D. V.
popup.publication
03-10-2025
popup.source_user
Вінницький національний технічний університет
popup.source
https://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/49647
popup.publisher
Хмельницький національний університет
Description
У статті проводиться дослідження етапів вхідного та вихідного контролю виробів електронної техніки за рівнем низькочастотних шумів. Досліджено основні інформативні параметри: вимірювальну шумову напругу та випадкову похибку. Встановлено, що вимірювальна величина має довірковий інтервал, який враховує похибки вимірювання та визначення границь контролю. Визначено границі контролю, на основі яких отримано аналітичні вирази для розподілу інформативного параметра у визначених межах для надійних та ненадійних виробів електронної техніки. Враховуючи межу розділення виробів на придатні та непридатні, було запропоновано границі контролю, які містять коефіцієнт відсікання імовірних похибок. Отримано узагальнений аналітичний вираз оцінювання вірогідності контролю, який враховує мінімізацію дії систематичних та випадкових факторів впливу для підвищення ефективності вхідного та вихідного контролю за рівнем низькочастотного шуму.
popup.nrat_date
2026-11-02
