Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0214U005447, 0110U004655 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розроблення та розвиток методів субмікронного топографування та паспортизації хімічного складу, структурної досконалості, електрофізичних параметрів та розподілу механічних напружень у наноструктурах електроніки і оптоелектроніки. Назва етапу роботи Керівник роботи Стрельчук Віктор Васильович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 30-12-2014 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Розроблено комплекс неруйнівних оптичних методів нанодіагностики просторового розподілу фізичних параметрів напівпровідникових наноструктурованих елементів приладів мікро- і наноелектроніки та дослідження динаміки їх зміни при прикладанні робочих напруг. Проведено модернізацію кріостату, зокрема у камеру кріостатування підведено електричні контакти, що дозвилило приєднувати різні зовнішні джерела навантаження. Камеру кріостату адаптовано під об'єктив мікроскопу у раманівському спектрометрі. На основі проведених випробувань приладних структур у робочих режимах методами КРС та ФЛ здійснено детальний аналіз відповідних фізичних явищ в наноструктурах і вивчено фундаментальні властивості взаємодіючих багатоелектронної та фононної підсистем в полярних наноструктурах в умовах далеких від рівноваги, зокрема, в сильних електричних полях та при великих струмах. Опис продукції Результати наукових досліджень будуть використані при вирішені фізичних проблем впливу структурних параметрів на оптичні та електронні властивості наноструктур, що є важливим як для науки, так і для технології. Розробка локальних методів діагностики дозволить проводити топографування динаміки зміни параметрів наноприладів, як функції електричного поля, струму, чи неоднорідного локального просторового розподілу температурних полів. На практиці розроблені методи необхідно застосовувати при виготовлені елементної бази опто- і наноелектронних пристроїв з використанням методів нанотехнологій. Розробка та введення в дію відповідних методик і апаратури для нанодіагностики матеріалів і приладів сприятиме поповненню дохідної частини бюджету України шляхом забезпечення виконання замовлень підприємств та організацій різної форми власності, створенню робочих місць, підвищенню якості підготовки фахівців вітчизняних університетів. Відсутність методик нанодіагностики і отримання просторових топограм із субмікронною ро Автори роботи Авраменко Катерина Андріївна Бойко Микола Іванович Губанов Віктор Олександрович Коломис Олександр Федорович Ніколенко Андрій Сергійович Насєка Віктор Миколайович Насєка Юрій Миколайович Романюк Артем Сергійович Стубров Юрій Юрійович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити