Реєстраційний номер
0222U001228,
0121U110102
, Науково-дослідна робота
Назва роботи
Розвиток новітніх фізико-технологічних засад створення багатошарових багатокомпонентних нітридних або карбонітридних наноструктурних покриттів та вивчення взаємодії з різними матеріалами. Дослідження процесів утворення комплексних поверхневих шарів, що володіють підвищеними характеристиками, що містять Cr, Ti, Zr, Hf, Та, Si, B, C, Mo, за допомогою вакуумного активованого дифузійного насичення і газофазного осадження (CVD) на сталях, тугоплавких металах і вуглецевих матеріалах для використання в космічній техніці, авіаційній та атомній промисловості, машинобудуванні.
Назва етапу роботи
Керівник роботи
Руденький Сергій Георгійович, Доктор технічних наук
Столбовий В'ячеслав Олександрович,
Дата реєстрації
25-01-2022
Організація виконавець
Національний науковий центр "Харківський фізико-технічний інститут" Національної академії наук України
Опис етапу
Метою досліджень є розробка захисних покриттів для забезпечення можливості функціонування виробів при підвищених температурах і впливі руйнуючих зусиль. Етап 1 - розробка процесів формування багатошарових нітридних або карбонітридних покриттів з наношарами вольфраму та дослідження структурних перетворень, властивостей і поводження таких покриттів при різних видах фізикомеханічних обробок.
Об’єктом досліджень є вакуумно-дугові багатошарові покриття WN/MeN (Me = Zr, Cr, Mo, Nb).
Фазовий аналіз покриттів проводили за допомогою рентгенівської дифракції Брегга-Брентано (XRD, рентгенівський дифрактометр Panalytical Empyrean) з випромінюванням Cu-Kα (λ = 1,5406 Å). Для вимірювання залишкових напружень був використаний метод 2θ-Ω в конфігурації падіння з випромінюванням Co-Kα (λ = 1,78901 Å) при U = 40 кВ та I = 30 мА. Морфологію та перерізи багатошарових покриттів WN/MeN (Me = Cr, Zr, Mo, Nb) вивчали за допомогою скануючого електронного мікроскопа з високою роздільною здатністю (FE-SEM) JEOL JSM 7600F. Загальну товщину багатошарових покриттів вимірювали за допомогою калотесту (Anton Paar Compact CAT2c Calotester). Рельєф та шорсткість поверхні визначали за допомогою Zeiss LSM 700 відповідно до стандарту ISO 25178. Кристалографічну характеристику багатошарового покриття WN/NbN визначали за допомогою ТЕМ у режимі яскравого поля (BF), просвічуючої електронної мікроскопії високої роздільної здатності (HRTEM) у режимі висококутового кільцевого зображення темного поля (HAADF).
Для нанорозмірних багатошарових покриттів WN/MeN (Me = Cr, Zr, Mo, Nb), нанесених вакуумно-дуговим методом, були проведені дослідження мікроструктури, механічних властивостей, характеристик тертя та зносостійкості.
Опис продукції
Автори роботи
Cерченко Марина Павлівна
Cоловіченко Юрій Михайлович
Ільченко Нора Сосівна
Андреєв Анатолій Опанасович
Баранков Михайло Якович
Бредіхін Михайло Юрійович
Гетман Валентина Федорівна
Доломанов Андрій Валентинович
Змій Віктор Іванович
Карцев Микола Федорович
Коваленко Володимир Іванович
Ковтеба Дмитро Володимирович
Коновлов Ігор Іванович
Корнєєв Олександр Олександрович
Кривошапка Руслан Васильович
Кунченко Олексій Вікторович
Кунченко Юрій Вікторович
Литвяк Аліна Костянтинівна
Лукирський Юрій Валентинович
Ляшенко Ігор Андрійович
Маринін Володимир Григорович
Мартиненко Людмила Іванівна
Мирошниченко Костянтин Вікторович
Павленко Володимир Іванович
Рак Василь Ілларіонович
Рижова Тетяна Петрівна
Руденький Сергій Георгійович
Сердюк Ірина Віталіївна
Столбовий В'ячеслав Олександрович
Черноіванов Євгеній Володимирович
Шарапова Тетяна Іванівна
Додано/оновлено в НРАТ
2022-03-09